公开(公告)号 | CN1147590C |
公开(公告)日 | 2004.04.28 |
申请(专利)号 | CN99110795.0 |
申请日期 | 1999.08.13 |
专利名称 | 基于比率法检测DNA芯片荧光信号的方法 |
主分类号 | C12Q1/68 |
分类号 | C12Q1/68;G01N33/50 |
分案原申请号 | |
优先权 | |
申请(专利权)人 | 杨梦甦 |
发明(设计)人 | 杨梦甦;雷国华 |
地址 | 香港达之路83号香港城市大学生物及化学系 |
颁证日 | 2004.04.28 |
国际申请 | |
进入国家日期 | |
专利代理机构 | 杭州求是专利事务所有限公司 |
代理人 | 张法高 |
国省代码 | 香港;HK |
主权项 | 一种基于比率法检测DNA芯片荧光信号的方法,其特征在于把3’端标记荧光物质,5’端标记氨基的寡核苷酸探针与仅5’端标记氨基的寡核苷酸探针混合点样,通过监测DNA芯片上的寡核苷酸探针的点样量、探针固定量的荧光强度,控制芯片的制作质量;根据固定探针的密度,选择用另一种荧光物质标记的目标DNA分子的最佳杂交浓度、杂交时间,以获得最佳的杂交效果;根据寡核苷酸探针荧光物质CY-5的荧光强度与目标DNA分子上的荧光物质的荧光强度的比值,确定目标DNA分子与寡核苷酸探针的结合情况,消除了由于点样不均匀性而产生的杂交荧光信号差别,所说的标记寡核苷酸探针的荧光物质与标记目标DNA分子的荧光物质的发射光谱不重叠。 |
摘要 | 本发明公开了一种基于比率法检测DNA芯片荧光信号的方法。它利用一种荧光物质标记寡核苷酸探针和另一种荧光物质标记目标DNA分子,通过检测DNA芯片上的寡核苷酸探针的点样量、探针固定量(密度)的荧光强度,控制芯片的制作质量;根据寡核苷酸探针荧光强度与目标分子荧光强度的比值,来衡量该点是否有杂交信号,本发明的优点:该方法能够监测芯片表面化学处理是否均匀、固定探针是否均匀,同时解决了由于固定探针数量的变化而导致的荧光信号变化的问题。 |
国际公布 |